Máy đo độ dẫn nhiệt sử dụng phương pháp xung laser tức thời.

Thiết bị này thích hợp để đo hệ số khuếch tán nhiệt và độ dẫn nhiệt của các vật liệu rắn có độ dẫn nhiệt cao, chẳng hạn như kim loại, than chì, v.v., theo tiêu chuẩn quốc gia GB/T 22588-2008 "Phương pháp đo hệ số khuếch tán nhiệt hoặc độ dẫn nhiệt bằng phương pháp chớp" và ASTM E 1461-2001 "Phương pháp xác định hệ số khuếch tán nhiệt bằng phương pháp chớp". 

Nguyên lý thử nghiệm: Các mẫu mỏng được chiếu xạ bằng các xung năng lượng cường độ cao, thời gian ngắn. Mặt trước của mẫu hấp thụ năng lượng xung để làm tăng nhiệt độ mặt sau. Sự thay đổi nhiệt độ mặt sau được ghi lại. Thời gian cần thiết để nhiệt độ mặt sau của mẫu tăng lên đến một nửa giá trị tối đa sau khi nhận được chiếu xạ xung ánh sáng (còn gọi là thời gian làm nóng một nửa) được sử dụng để nhanh chóng tính toán hệ số khuếch tán nhiệt α và độ dẫn nhiệt l của mẫu bằng máy tính thông qua một mô hình toán học đặc biệt. 

Máy đo độ dẫn nhiệt bằng phương pháp laser tạm thời của công ty chúng tôi thích hợp để kiểm tra các vật liệu có độ dẫn nhiệt cao như kim loại, than chì, graphene, silicon carbide, v.v. Máy có ưu điểm là tốc độ đo nhanh và kết quả đo chính xác. Máy có tính hiệu quả về chi phí và đáp ứng nhu cầu sản xuất, kiểm tra chất lượng, nghiên cứu và phát triển của các ngành liên quan.